詰物ガス: | アルゴン、ネオンおよびフッ素のガスの混合物 | 製品名: | アルゴンのフッ化物の混合物 |
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化学式: | ArF | アプリケーション: | エキシマーのレーザー |
密度: | 未知数 | 毛骨質量: | 59.954 g/mol |
ハイライト: | レーザーのガスの混合物,msdsの天燃ガス |
プレミックスガス アルゴンフッ化物、ArFガス混合物 193nmリソグラフィー
説明:
ArF エキシマレーザーの最も普及した産業用途は、マイクロ電子デバイス製造のための深紫外光リソグラフィーです。1960年代初頭から1980年代半ばにかけて、Hg-Xeランプが436、405、365 nmの波長でのリソグラフィーに使用されていました。しかし、半導体業界がより細かい解像度とより高い生産スループットを必要とするようになり、ランプベースのリソグラフィーツールはもはや業界の要件を満たすことができなくなりました。
この課題は、1982年にK. JainによってIBMで深紫外エキシマレーザーリソグラフィーが発明され、実証されたことで克服されました。過去20年間で機器技術が飛躍的に進歩し、今日、エキシマレーザーリソグラフィーを使用して製造された半導体電子デバイスの年間生産額は4,000億ドルに達しています。その結果、エキシマレーザーリソグラフィーは、いわゆるムーアの法則の継続的な進歩における重要な要因であると半導体業界は考えています。
さらに広い科学的および技術的観点から見ると、1960年のレーザーの発明以来、エキシマレーザーリソグラフィーの開発は、レーザーの50年の歴史における主要なマイルストーンの1つとして強調されてきました。
仕様:
1. 物理的特性
商品 | アルゴンフッ化物ガス |
分子式 | ArF |
相 | ガス |
色 |
無色 |
輸送時の危険クラス | 2.2 |
2. 代表的な技術データ(COA)
主要成分 | |||
成分 | 濃度 | 範囲 | |
フッ素 | 1.0% | 0.9-1.0% | |
アルゴン | 3.5% | 3.4-3.6% | |
ネオン | 残量 | ||
最大不純物 | |||
成分 | 濃度(ppmv) | ||
二酸化炭素(CO2) | <5.0 | ||
一酸化炭素(CO) | <1.0 | ||
四フッ化炭素(CF4) | <2.0 | ||
フッ化カルボニル(COF2) | <2.0 | ||
ヘリウム(He) | <8.0 | ||
水分(H2O) | <25.0 | ||
窒素(N2) | <25.0 | ||
三フッ化窒素(NF3) | <1.0 | ||
酸素(O2) | <25.0 | ||
四フッ化ケイ素(SiF4) | <2.0 | ||
六フッ化硫黄(SF6) | <1.0 | ||
THC(メタンとして)(CH4) | <1.0 | ||
キセノン(Xe) | <10.0 |
3. パッケージ
シリンダー仕様 | 内容 | 圧力 | ||||
シリンダー | バルブ出口オプション | 立方フィート | リットル | PSIG | BAR | |
1 | CGA679 | DISS 728 | 265 | 7500 | 2000 | 139 |
2 | CGA679 | DISS 728 | 212 | 6000 | 2000 | 139 |
3 | CGA679 | DISS 728 | 71 | 2000 | 1800 | 125 |
用途:
アルゴンフッ化物混合物は、193 nmリソグラフィー用途で使用され、通常は不活性ガス混合物と組み合わせて使用されます。